檢視微分干涉相差顯微鏡的原始碼

'''微分干涉相差顯微技術'''('''DIC''') , 閣稱'''Nomarski 干涉相差顯微技術'''抑是'''Nomarski 顯微鏡''', 是一種增強對比度來觀察未染色的透明的光學顯微鏡。DIC 根據干涉測量獲取有關樣品光路長度信息，以查看其他袂當看著的特徵。相對複雜的光學系統產生有殕色背景的烏色抑是白色的圖像。這圖像類似通過相差顯微鏡得著的毋過無明顯衍射光眩的圖像。該技術由波蘭物理學家 Georges Nomarski 佇一九五二年研發。

DIC 通過共偏振光源分離做佇樣品平面上空間位徙（剪切）的兩个正交偏振相干部份，閣兼佇觀察進前重組。複合的時陣兩部份的干涉著其光程差（即折射率乘積佮幾何路徑長度）敏感。添加會當調節的偏移相位確定佇咧寫樣品內面的零光程差的干涉，著比度是正比沿剪切方向的路徑長度梯，得著三維的光密度變化的樣本圖像，圖像強調線條佮邊緣，毋過無提供表面上準確的圖像。

==參考文獻==

==外部連結==

* Nomarski ( DIC ) microscopy
* Microscopyu . com
* _ Molecular Expressions _ :
* Differential Interference Contrast Primer
* Differential Interference Contrast

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