https://wiki.taigi.ima.org.tw/w/index.php?action=history&feed=atom&title=%E5%BE%AE%E5%88%86%E5%B9%B2%E6%B6%89%E7%9B%B8%E5%B7%AE%E9%A1%AF%E5%BE%AE%E9%8F%A1 2026-05-13T09:19:02Z 本 wiki 上此頁面的修訂紀錄 MediaWiki 1.43.1 https://wiki.taigi.ima.org.tw/w/index.php?title=%E5%BE%AE%E5%88%86%E5%B9%B2%E6%B6%89%E7%9B%B8%E5%B7%AE%E9%A1%AF%E5%BE%AE%E9%8F%A1&diff=460456&oldid=prev 2025-08-23T04:21:35Z

<p>從 JSON 檔案批量匯入</p> <p><b>新頁面</b></p><div>&#039;&#039;&#039;微分干涉相差顯微技術&#039;&#039;&#039;(&#039;&#039;&#039;DIC&#039;&#039;&#039;) , 閣稱&#039;&#039;&#039;Nomarski 干涉相差顯微技術&#039;&#039;&#039;抑是&#039;&#039;&#039;Nomarski 顯微鏡&#039;&#039;&#039;, 是一種增強對比度來觀察未染色的透明的光學顯微鏡。DIC 根據干涉測量獲取有關樣品光路長度信息，以查看其他袂當看著的特徵。相對複雜的光學系統產生有殕色背景的烏色抑是白色的圖像。這圖像類似通過相差顯微鏡得著的毋過無明顯衍射光眩的圖像。該技術由波蘭物理學家 Georges Nomarski 佇一九五二年研發。<br /> <br /> DIC 通過共偏振光源分離做佇樣品平面上空間位徙（剪切）的兩个正交偏振相干部份，閣兼佇觀察進前重組。複合的時陣兩部份的干涉著其光程差（即折射率乘積佮幾何路徑長度）敏感。添加會當調節的偏移相位確定佇咧寫樣品內面的零光程差的干涉，著比度是正比沿剪切方向的路徑長度梯，得著三維的光密度變化的樣本圖像，圖像強調線條佮邊緣，毋過無提供表面上準確的圖像。<br /> <br /> ==參考文獻==<br /> <br /> ==外部連結==<br /> <br /> * Nomarski ( DIC ) microscopy<br /> * Microscopyu . com<br /> * _ Molecular Expressions _ :<br /> * Differential Interference Contrast Primer<br /> * Differential Interference Contrast<br /> <br /> [[分類: 待校正]]</div>

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