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ATPG - 修訂紀錄
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TaiwanTonguesApiRobot：從 JSON 檔案批量匯入
2025-08-23T07:03:47Z
<p>從 JSON 檔案批量匯入</p>
<p><b>新頁面</b></p><div>'''自動測試圖樣產生'''（英語：'''Automatic test pattern generation , ATPG'''）系統是一種工具，產生資料予製造出來了後的數位電路做試驗使用。<br />
<br />
超大型積體電路的測試平台，欲達到非常懸的錯誤涵蓋率是非常困難的工課，因為伊的複雜度足懸的。<br />
針對組合邏輯電路（Combinatorial logic）佮序向邏輯電路（Sequential logic）的電路試看覓咧，伊必須愛使用無仝的 ATPG 方法。<br />
<br />
==參見==<br />
<br />
* 可測試性設計<br />
* 故障模式<br />
* 特殊應用積體電路<br />
* 超高速積體電路<br />
<br />
[[分類: 待校正]]</div>
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