自動測試圖樣產生（英語：Automatic test pattern generation , ATPG）系統是一種工具，產生資料予製造出來了後的數位電路做試驗使用。
超大型積體電路的測試平台，欲達到非常懸的錯誤涵蓋率是非常困難的工課，因為伊的複雜度足懸的。 針對組合邏輯電路（Combinatorial logic）佮序向邏輯電路（Sequential logic）的電路試看覓咧，伊必須愛使用無仝的 ATPG 方法。
